SN74ABTH18652A产品参数_功能特性_原装原厂
具有18位总线收发器和寄存器的ABTH18652A和ABTH182652A扫描测试设备是德州仪器SCOPETM可测试性集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，这些设备是18位总线收发器和寄存器，允许直接从输入总线或内部寄存器多路传输数据。它们既可以用作两个9位收发器，也可以用作一个18位收发器。测试电路可由TAP激活，对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPETM总线收发器和寄存器的功能操作。
每个方向的数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)、选择(SAB和SBA)和输出支持(OEAB和)输入控制。对于A-to- b数据流，A总线上的数据在CLKAB的低到高转换上被时钟记录到相关寄存器中。当SAB较低时，选择实时A数据呈现给B总线(透明模式)。。当OEAB较低时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流的控制类似于A-to-B数据流的控制，但是使用CLKBA、SBA和输入。由于输入为低电平有源，因此A输出在低电平时为有源，在高电平时为高阻抗状态。图1说明了使用“ABTH18652A”和“ABTH182652A”执行的四种基本总线管理功能。。
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在测试模式下，抑制SCOPETM总线收发器和寄存器的正常工作，使测试电路能够观察和控制器件的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚观察和控制测试电路的工作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
通过采用每I/O引脚一个边界扫描单元(BSC)架构，提高了扫描效率。该体系结构是以这样一种方式实现的，即捕获最相关的测试数据。还包括PSA/COUNT指令，以简化存储器和其他电路的测试，其中二进制计数寻址方案是有用的。
有源总线保持电路将未使用的或浮动的数据输入保持在有效的逻辑电平上。
ABTH182652A的b端口输出，其设计为源或吸收高达12 mA，包括25系列电阻，以减少过调和欠调。。
SN54ABTH18652A和SN54ABTH182652A的特点是在-55°C至125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABTH18652A和SN74ABTH182652A的特点是工作温度从-40°C到85°C。
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SN74ABTH18652A的特性
- 德州仪器范围的成员TM可测试性产品系列
- 德州仪器公司的成员TM家庭
- 兼容IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
- 包括d型触发器和控制电路，提供存储和实时数据的多路传输
- 数据输入上的总线保持消除了外部上拉电阻的需要
- ABTH182652A设备的b口输出等效25-
串联电阻，因此不需要外部电阻 - 最先进的EPIC-IIBTMBiCMOS设计
- 每个I/O架构一个边界扫描单元提高扫描效率
- 范围TM指令集
- IEEE标准1149.1-1990所需说明和可选的CLAMP和HIGHZ
- 输入端并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 设备标识
- 偶同位操作码
- 采用64引脚塑料薄四边形平面(PM)封装，中间间距为0.5 mm, 68引脚陶瓷四边形平面(HV)封装，中间间距为25 mm
范围, Widebus, and EPIC-IIB are trademarks of Texas Instruments Incorporated.
SN74ABTH18652A功能图
SN74ABTH18652A规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 18 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -15 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Bus-hold, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | ABT |
| 评级 | Catalog |
| 工作温度范围(℃) | -40 to 85 |
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