SN54ABTH18502A中文参数_功能图_原装原厂
带有18位通用总线收发器的ABTH18502A和ABTH182502A扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器，结合d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。它们既可以用作两个9位收发器，也可以用作一个18位收发器。测试电路可由TAP激活，对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE通用总线收发器的功能操作。
每个方向上的数据流由输出使能(and)、锁存使能(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流，当LEAB值高时，设备工作在透明模式。当LEAB低时，a总线数据锁存，而CLKAB保持在静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB较低，则a总线数据存储在CLKAB的低到高转换上。低时，B输出是活动的。为高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但使用LEBA和CLKBA输入。
在测试模式下，抑制SCOPE通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
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四个专用测试引脚观察和控制测试电路的工作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
通过采用每I/O引脚一个边界扫描单元(BSC)架构，提高了扫描效率。该体系结构是以这样一种方式实现的，即捕获最相关的测试数据。还包括PSA/COUNT指令，以简化存储器和其他电路的测试，其中二进制计数寻址方案是有用的。
有源总线保持电路将未使用的或浮动的数据输入保持在有效的逻辑电平上。
ABTH182502A的b端口输出，其设计为源或吸收高达12 mA，包括25系列电阻，以减少过调和欠调。。
SN54ABTH18502A和SN54ABTH182502A的特点是在-55°C至125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABTH18502A和SN74ABTH182502A的特点是工作温度从-40°C到85°C。
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显示了A-to-B数据流。B-to-A数据流类似，但使用OEBA\、LEBA和CLKBA。
在指定的稳态输入条件建立之前的输出水平。
SN54ABTH18502A的特性
- 德州仪器范围的成员TM可测试性产品系列
- 德州仪器公司的成员TM家庭
- 兼容IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试接入端口
边界扫描架构 - UBTTM(通用总线收发器)结合d型锁存器和d型触发器，用于透明、锁存或时钟模式下的操作
- 数据输入上的总线保持消除了外部上拉电阻的需要
- ABTH182502A设备的b口输出等效25-
串联电阻，因此不需要外部电阻 - 最先进的EPIC-IIBTMBiCMOS设计
- 每个I/O架构一个边界扫描单元提高扫描效率
- SCOPE指令集
- IEEE标准1149.1-1990所需说明和可选的CLAMP和HIGHZ
- 输入端并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 设备标识
- 偶同位操作码
- 采用64引脚塑料薄四边形平面(PM)封装，中间间距为0.5 mm, 68引脚陶瓷四边形平面(HV)封装，中间间距为25 mm
SCOPE, Widebus, UBT和EPIC-IIB是德州仪器公司的商标。
SN54ABTH18502A功能图
SN54ABTH18502A规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 18 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -32 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Bus-hold, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | ABT |
| 评级 | Military |
| 工作温度范围(℃) | -55 to 125 |
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