SN54ABT8646规格参数_功能特性_原厂出售
ABT8646和带八进制总线收发器和寄存器的扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试性集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，这些器件在功能上相当于F646和ABT646的八进制总线收发器和寄存器。测试电路可由TAP激活，对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE’八进制总线收发器和寄存器的功能操作。
收发器功能由输出使能(OE)和方向(DIR)输入控制。当OE\较低时，收发器工作，当DIR高时工作在A-to-B方向，当DIR低时工作在B-to-A方向。当OE\高时，A和B输出都处于高阻抗状态，有效地隔离了两个母线。
数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)和选择(SAB和SBA)输入控制。A总线上的数据在CLKAB的低到高转换上被时钟输入相关寄存器。当SAB较低时，选择实时A数据呈现给B总线(透明模式)。。图1显示了可以用ABT8646执行的四个基本总线管理功能。
在测试模式下，抑制SCOPE总线收发器和寄存器的正常工作，使测试电路能够观察和控制器件的I/O边界。当启用时，测试电路执行IEEE标准1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI)，测试数据输出(TDO)，测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
SN54ABT8646的特点是在- 55°C至125°C的全军用温度范围内工作。SN74ABT8646的特点是工作温度从- 40°C到85°C。
SN54ABT8646的特性
- Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products
- Compatible With the IEEE Standard 1149.1–1990 (JTAG) Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
- Functionally Equivalent to ’F646 and ’ABT646 in the Normal-Function Mode
- SCOPE™ Instruction Set
- IEEE标准1149.1-1990所需说明，可选的INTEST, CLAMP和HIGHZ
- 具有掩蔽选项的输入并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 偶同位操作码
- 每个I/O两个边界扫描单元，具有更大的灵活性
- State-of-the-Art EPIC-IIB™ BiCMOS Design Significantly Reduces Power Dissipation
- 封装选项包括塑料小轮廓(DW)和收缩小轮廓(DL)封装，陶瓷芯片载体(FK)和标准陶瓷dip (JT)
SCOPE和EPCI-IIB是德州仪器的商标。
SN54ABT8646功能图
SN54ABT8646规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 8 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -24 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | ABT |
| 评级 | Military |
| 工作温度范围(℃) | -55 to 125 |
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