SN74LV8154-EP产品参数_产品功能_现货出售
SN74LV8154是一个双16位二进制计数器，具有3状态输出寄存器，设计用于2 v至5.5 v VCC操作。
这个16位计数器(A或B)提供一个16位存储寄存器，每个存储寄存器进一步分为上字节和下字节。GAL, GAU, GBL和GBU输入用于选择需要在Y0-Y7输出的字节。。RCLK是A和B存储寄存器的时钟。所有三个时钟信号都是正边触发的。
通过将CLKA和CLKB连接在一起，并将RCOA连接到CLKBEN，可以实现一个32位计数器。
为保证上电或下电时的高阻抗状态，GAL、GAU、GBL和GBU应通过上拉电阻与VCC连接;。
该设备完全指定为使用Ioff的部分断电应用程序。Ioff电路使输出失效，在设备断电时防止破坏性电流回流。
SN74LV8154-EP的特性
- 控制基线
- 1个装配场地
- 1个试验场
- 1个制造地点
- Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
- 增强的减少制造源(DMS)支持
- 增强的产品变更通知
- 资格的血统（1)
- 可以用作两个16位计数器或单个32位计数器
- 2v到5.5 V的电压CC操作
- 5v时最大输出功率为25ns (RCLK到Y)
- 典型的VOLP (Output Ground Bounce) <0.7 V at VCC= 5v, t一个 = 25°C
- 典型的V哦V(输出V哦 Undershoot) >4.4 V at VCC= 5v, t一个 = 25°C
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode操作
- Latch-Up Performance Exceeds 250 m一个 Per JESD 17
- ESD保护超过JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (一个114-一个)
- 200-V Machine Model (一个115-一个)
- 1000 v充电器件型号(C101)
（1)Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly 一个ccelerated Stress Test (H一个ST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased H一个ST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
SN74LV8154-EP功能图
SN74LV8154-EP规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 函数 | Counter |
| 位(#) | 16 |
| 技术的家庭 | LV-A |
| 电源电压(min) (V) | 2 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 输入类型 | Standard CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff) |
| 工作温度范围(℃) | -55 to 125 |
| 评级 | HiRel Enhanced Product |
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