SN54BCT8373A前往购买
SN54BCT8373A中文规格_产品特征_原厂出售
IC先生 网络 95 2023-12-02 16:51:37
带有八进制d型锁存器的BCT8373A扫描测试设备是德州仪器SCOPETM可测试集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，这些器件在功能上相当于F373和BCT373八进制d型锁存器。测试电路可由TAP激活，以对出现在设备终端的数据进行快照采样或在边界测试单元上执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPETM八进制锁存器的功能操作。
在测试模式下，抑制SCOPETM八进制锁存器的正常工作，使测试电路能够观察和控制器件的I/O边界。当启用时，测试电路可以执行边界扫描测试操作，如IEEE标准1149.1-1990中所述。
。
四个专用测试终端用于控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
SN54BCT8373A的特点是在-55°C至125°C的全军用温度范围内工作。SN74BCT8373A的特点是工作温度从0°C到70°C。
SN54BCT8373A的特性
- 德州仪器范围的成员TM可测试性产品系列
- 八进制测试集成电路
- 功能相当于正常功能模式下的“F373”和“BCT373”
- 兼容IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
- 测试操作同步到测试访问端口(TAP)
- 通过识别TMS引脚上的双高电平(10v)实现可选的测试复位信号
- 范围TM指令集
- IEEE标准1149.1-1990所需说明，可选的INTEST, CLAMP和HIGHZ
- 输入端并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 封装选项包括塑料小轮廓(DW)封装，陶瓷芯片载体(FK)和标准塑料和陶瓷300密滴(JT, NT)
范围 is a trademark of Texas Instruments Incorporated.
SN54BCT8373A功能图
SN54BCT8373A规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 8 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -32 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | BCT |
| 评级 | Military |
| 工作温度范围(℃) | -55 to 125 |
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