SN74ABT18646中文规格_功能特性_原装供应
该扫描测试设备具有18位总线收发器和寄存器，是德州仪器SCOPE可测试性IC家族的成员。该设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便测试复杂的电路板组件。通过四线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，该设备是一个18位总线收发器和寄存器，允许直接从输入总线或内部寄存器多路传输数据。它既可以用作两个9位收发器，也可以用作一个18位收发器。测试电路可由TAP激活，以对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或在边界测试单元上执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE总线收发器和寄存器的功能操作。
收发器功能由输出使能(OE)和方向(DIR)输入控制。当(OE)\为低时，收发器处于活动状态，当DIR高时工作在A-to-B方向，当DIR低时工作在B-to-A方向。当(OE)\高时，A和B输出都处于高阻抗状态，有效地隔离了两个母线。
数据流由时钟(CLKAB和CLKBA)和选择(SAB和SBA)输入控制。A总线上的数据在CLKAB的低到高转换上被时钟输入相关寄存器。当SAB较低时，选择实时A数据呈现给B总线(透明模式)。。图1说明了SN74ABT18646可以执行的四种基本总线管理功能。
在测试模式下，抑制SCOPE总线收发器和寄存器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当使能时，测试电路可以根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的工作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
通过为每个I/O引脚使用两个边界扫描单元(BSCs)，在测试模式中提供了额外的灵活性。这允许在总线(A或B)捕获和强制独立测试数据。还包括PSA/COUNT指令，以简化对存储器和其他电路的测试，其中二进制计数寻址方案很有用。
SN74ABT18646的特性
- Member of the Texas Instruments Widebus™ Family
- 兼容IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
- 包括d型触发器和控制电路，提供存储和实时数据的多路传输
- 每个I/O两个边界扫描单元，具有更大的灵活性
- SCOPE™ Instruction Set
- IEEE标准1149.1-1990所需的说明，可选的INTEST，和P1149.1A钳和HIGHZ
- 在输入与掩蔽选项并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 设备标识
- 偶同位操作码
SCOPE和widbus是德州仪器的商标。
SN74ABT18646功能图
SN74ABT18646规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 18 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -32 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | ABT |
| 评级 | Catalog |
| 工作温度范围(℃) | -40 to 85 |
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