SN74ABT18502产品参数_产品功能_现货出售
带有18位通用总线收发器的SN74ABT18502扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试性IC家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过四线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，该器件是一个18位通用总线收发器，结合d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。该设备既可以用作两个9位收发器，也可以用作一个18位收发器。测试电路可由TAP激活，以对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或在边界测试单元上执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE通用总线收发器的功能操作。
每个方向的数据流由输出使能(OEAB和OEBA)、锁存使能(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流，当LEAB值高时，设备工作在透明模式。当LEAB低时，a总线数据锁存，而CLKAB保持在静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB较低，则a总线数据存储在CLKAB的低到高转换上。当OEAB\较低时，B输出是活动的。当OEAB\高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但使用OEBA\、LEBA和CLKBA输入。
在测试模式下，抑制SCOPE通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的工作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
通过为每个I/O引脚使用两个边界扫描单元(BSCs)，在测试模式中提供了额外的灵活性。这允许在总线(A或B)捕获和强制独立测试数据。还包括PSA/二进制计数(PSA/ count)指令，以简化对存储器和其他电路的测试，其中二进制计数寻址方案很有用。
SN74ABT18502的特性
- Member of the Texas Instruments Widebus™ Family
- UBT™ Transceiver Combines D-Type Latches and D-Type Flip-Flops for Operation in Transparent, Latched, or Clocked Mode
- 兼容IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口(TAP)和边界扫描架构
- 包括d型触发器和控制电路，提供存储和实时数据的多路传输
- 每个I/O两个边界扫描单元(BSCs)，以获得更大的灵活性
- SCOPE™ Instruction Set
- IEEE标准1149.1-1990所需的说明，可选的INTEST，和P1149.1A钳和HIGHZ
- 具有掩蔽选项的输入并行签名分析(PSA)
- 从输出生成伪随机模式(PRPG)
- 样例输入/切换输出(TOPSIP)
- 输出二进制计数
- 设备标识
- 偶同位操作码
SCOPE、UBT和widbus是德州仪器的商标。
SN74ABT18502功能图
SN74ABT18502规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 4.5 |
| 电源电压(最大)(V) | 5.5 |
| 通道数 | 18 |
| IOL (max) (mA) | 64 |
| IOH (max) (mA) | -32 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | ABT |
| 评级 | Catalog |
| 工作温度范围(℃) | -40 to 85 |
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