FBGA封装特点_引脚尺寸_工艺流程
FBGA封装(Fine-pitch Ball Grid Array,即细间距球栅阵列封装)是一种集成电路封装技术,它是一种在电路板上用于封装和连接集成电路芯片的方法,采用的是全塑封并以低间距的锡球作为I/O口的连接,也就是也就是塑料封装的BGA。
FBGA封装使用球形焊球连接芯片和电路板之间的接触点,这些焊球位于封装的底部,并以网格状排列。FBGA封装具有较小的引脚间距和较高的引脚密度,使其适用于高密度和高性能的集成电路。
FBGA封装在现代电子设备中广泛使用,包括计算机、通信设备、消费电子和移动设备等。它提供了更好的热管理、电气性能和可靠性,同时也减小了电路板的尺寸和重量。
封装特点
FBGA封装工艺具有以下主要优势特点:
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高密度和高引脚数量:具有较小的引脚间距和较高的引脚密度,使其能够容纳更多的引脚和连接点。这使得在有限空间内实现更高的集成度成为可能。
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优秀的电气性能:通过短而直接的焊球连接提供了低电阻、低电感和低串扰的电气连接。这有助于提高信号传输的速度和稳定性,降低信号噪音和失真。
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良好的散热性能:通过焊球连接将芯片紧密地附着在电路板上,从而提供了良好的散热路径。这有助于有效地传导和分散芯片产生的热量,提高芯片的散热效果。
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较小的封装体积:采用了球形焊球连接,不再需要传统封装中的引脚外露,因此可以实现更紧凑的封装体积。这有助于减小电路板的尺寸和重量,使设备更加紧凑和轻便。
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高可靠性:焊球连接具有较高的可靠性,能够承受较大的机械应力和温度变化。焊球的球形形状和高密度排列也能够提供更好的抗震动和抗冲击性能。
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自动化生产:采用了表面贴装技术(SMT),可以通过自动化设备进行快速和高效的生产。这提高了生产效率并降低了生产成本。
封装尺寸
FBGA封装的尺寸和引脚间距可以因不同的芯片和封装规格而有所变化。FBGA封装通常以引脚数目(例如:FBGA256表示有256个引脚)和引脚间距(以毫米为单位)进行标识。以下是一些常见的FBGA封装规格及其大致尺寸和引脚间距的示例:
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FBGA153:尺寸约为11.5mm x 13mm,引脚间距约为0.8 mm。
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FBGA256:尺寸约为10 mm x 10 mm,引脚间距约为0.8 mm。
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FBGA512:尺寸约为14 mm x 14 mm,引脚间距约为0.65 mm。
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FBGA1024:尺寸约为22 mm x 22 mm,引脚间距约为0.5 mm。
需要注意的是,这些尺寸和间距仅作为一般示例,并不适用于所有FBGA封装。实际的尺寸和引脚间距可能会根据特定的芯片和封装规格而有所变化。因此,在使用FBGA封装时,最好参考芯片和封装厂商提供的PDF规格表和技术文档,以获取准确的尺寸和引脚间距信息。
封装工艺
FBGA封装的制造工艺通常包括以下步骤:
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芯片准备:首先,需要准备好待封装的集成电路芯片。这包括将芯片从晶圆上切割成单个芯片,清洁和检查芯片表面是否有缺陷或损坏。
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基板准备:准备好电路板(基板)用于封装芯片。基板通常采用硅片或陶瓷片,具有导电层和绝缘层。基板上的导电层用于连接芯片的引脚。
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焊盘设计:设计基板上的焊盘布局。焊盘用于与芯片的引脚连接,并提供电信号和电源传输。
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焊盘制造:在基板上通过化学蚀刻或金属沉积等方法制造焊盘。这涉及将焊盘的金属层附着在基板上,并确保焊盘的精确尺寸和位置。
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焊球粘结:将焊球粘接在芯片的引脚上。焊球通常由金属材料(如锡-铅合金或无铅材料)制成,并以特定的尺寸和形状粘结在芯片引脚上。
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芯片定位和热压焊接:将芯片精确定位在基板上,使焊球与焊盘对应。然后,使用热压焊接设备,施加适当的温度和压力,使焊球熔化并形成连接。热压焊接将芯片引脚与基板上的焊盘连接起来。
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测试和封装:完成焊接后,对封装的芯片进行功能和性能测试。测试包括电气测试、信号完整性测试和可靠性测试等。一旦通过测试,封装芯片将进行封装密封和保护,通常使用环氧树脂封装。
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芯片切割:将封装好的芯片切割成单个封装芯片,准备用于后续的安装和使用。
焊接方法
FBGA封装的焊接过程通常是通过热压焊接(thermo-compression bonding)或无铅回流焊接(lead-free reflow soldering)来实现的。以下是FBGA封装的一般焊接过程:
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准备工作:首先,需要准备好焊接设备和工具,包括焊接炉(热压焊接)或回流炉(无铅回流焊接)、焊接模具、焊膏、焊接板等。确保焊接设备和工具符合焊接规范和要求。
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准备焊接板:将需要焊接的电路板准备好,确保其表面清洁,并在焊接点上涂抹薄薄的焊膏。
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定位芯片:将FBGA芯片精确地定位在焊接板的对应位置上。可以使用自动化设备或精确的手动操作来确保芯片的正确放置。
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热压焊接(热压焊接方式):使用热压焊接设备,将预热的焊接模具放置在FBGA芯片上方,并施加适当的温度和压力。这使得焊膏熔化并形成焊接接点,将芯片与焊接板连接在一起。焊接温度和压力需要根据芯片和焊膏的规格进行调整。
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无铅回流焊接(无铅回流焊接方式):将焊接板放入回流炉中,通过控制回流炉的温度曲线,使焊膏熔化并形成焊接接点。回流炉中的温度曲线需要根据焊膏和电路板的要求进行调整。
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冷却和固化:完成焊接后,焊接板需要冷却并固化。确保焊接接点完全冷却和固化,以确保焊接的可靠性和稳定性。
过孔与走线
对于FBGA封装,常规的过孔(Through-hole)连接和走线(Routing)在焊盘设计中并不直接适用。这是因为FBGA封装的引脚通常以球形焊球的形式位于封装底部,而不是通过常规的铅脚连接。因此,FBGA封装通常采用其他方法来实现连接和走线。
在FBGA封装中,连接和走线通常通过以下两种方式来实现:
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高密度互连(High-Density Interconnect,HDI)技术:HDI技术是一种通过使用微细线路、垂直插孔和盲孔等特殊设计来实现高密度电路连接的技术。通过使用HDI技术,可以在封装底部的焊球附近创建微细线路和通孔,实现引脚与电路板之间的连接和走线。
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链接层(Bump Plating):链接层是一种在FBGA封装的底部焊球上涂覆一层金属连接材料的方法。这些金属连接材料通常是具有良好导电性和可焊接性的材料,如锡、铅或金。通过涂覆链接层,可以在FBGA封装的底部形成与电路板上焊盘对应的金属连接点,从而实现引脚与电路板之间的连接和走线。
所以,FBGA封装中的过孔和走线通常使用高密度互连技术(HDI)或链接层(Bump Plating)来实现。这些技术能够在封装底部的焊球附近创建微细线路、通孔或金属连接点,从而实现引脚与电路板之间的连接和走线。
FBGA和BGA封装区别
FBGA封装和BGA封装(Ball Grid Array)是两种不同的集成电路封装技术,它们在封装结构和特点上存在一些区别。
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引脚间距和密度:FBGA封装通常具有较小的引脚间距和较高的引脚密度,使其适用于高密度和高性能的集成电路。而BGA封装的引脚间距和密度相对较大,适用于一般性能的集成电路。
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封装形式:FBGA封装的引脚通常以球形焊球的形式位于封装底部,焊球通过高密度互连(HDI)技术或链接层与电路板连接。而BGA封装的引脚则直接位于封装底部,通过焊球与电路板连接。
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散热性能:由于FBGA封装的焊球连接紧密,并且通过焊球与电路板紧密接触,因此其散热性能相对较好。而BGA封装的焊球连接与电路板之间有一定间隙,可能会影响散热性能。
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应用领域:FBGA封装常用于高性能计算机、通信设备、消费电子和移动设备等需要高密度和高性能的应用。而BGA封装则广泛应用于各种电子设备,包括电视、家用电器、工控设备等。
需要注意的是,尽管FBGA和BGA封装在一些方面存在差异,但它们都是常见的表面贴装封装技术,用于连接和封装集成电路。具体选择使用哪种封装,取决于芯片的特性、应用需求和设计约束等因素。