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SN74LVT8996-EP产品参数_产品特性_现货专卖

IC先生 网络 67 2023-11-05 13:34:52

SN74LVT8996 10位可寻址扫描端口(ASP)是德州仪器SCOPE可测试性集成电路家族的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描,以方便复杂电路组件的测试。与大多数SCOPE设备不同,ASP不是边界可扫描设备,相反,它将TI的可寻址阴影端口技术应用于IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口(TAP),以扩展超出板级的扫描访问。

该器件在功能上等同于ABT8996 asp。此外,它专为低压(3.3 v) VCC操作而设计,但具有与5v主机和/或目标接口的能力。

从概念上讲,ASP是一个简单的开关,可用于直接将一组多滴主TAP信号连接到一组辅助TAP信号-例如,将背板TAP信号连接到板级TAP。ASP提供了这两个接口可能需要的所有信号缓冲。当主次tap连接时,只引入适度的传播延迟-不插入存储/重定时元件。这最大限度地减少了重新格式化板级测试向量以供系统内使用的需要。

ASP的大多数操作与主测试时钟(PTCK)输入是同步的。PTCK总是直接缓冲到辅助测试时钟(STCK)输出上。

在设备上电时,ASP假定主TAP与辅助TAP断开(除非使用旁路信号,如下所示)。。PTRST总是直接缓冲到辅助测试复位(STRST)输出上,确保ASP及其相关的辅助TAP可以同时复位。

连接后,主测试数据输入(PTDI)和主测试模式选择(PTMS)分别被缓冲到二次测试数据输出(STDO)和二次测试模式选择(STMS)输出,而二次测试数据输入(STDI)被缓冲到主测试数据输出(PTDO)。。在断开辅助TAP时,STMS保持其最后的低电平或高电平,允许辅助TAP保持在其最后的稳定状态。ASP复位后,STMS高,允许从TAP同步复位到Test-Logic-Reset状态。

在系统中,主从连接基于影子协议,分别在PTDI和PTDO上接收和确认。这些协议可以发生在除Shift-DR或Shift-IR (i)之外的任何稳定TAP状态。例如,Test-Logic-Reset, Run-Test/Idle, Pause-DR或Pause-IR)。。当在PTDI串行接收到与并行地址输入(A9-A0)相匹配的地址时,ASP在PTDO串行重传其地址作为确认,然后假定连接(ON)状态,如上所述。如果接收到的地址与地址输入不匹配,ASP立即假定断开连接(OFF)状态而不进行确认。

ASP还支持在影子协议期间可以全局接收的三个专用地址(即所有ASP都响应的地址)。收到专用断开地址(DSA)会导致ASP以与不匹配地址相同的方式断开连接。保留此地址供全局使用,确保至少有一个地址可用于断开所有接收asp。当多个asp的次要tap处于不同的稳定状态时,DSA特别有用。收到重置地址(RSA)会导致ASP假定如上所述的重置条件。测试同步地址(TSA)的接收导致ASP假定一个连接状态(多播),PTDO处于高阻抗,但PTMS到STMS和PTDI到STDO的连接被维持,以允许多个ASP的辅助tap同时操作。这对于多播tap状态移动,同时测试操作(例如在Run-Test/Idle状态)以及将公共测试数据扫描到多个类似扫描链中非常有用。TSA只有在Pause-DR或Pause-IR TAP状态下才有效。

或者,可以通过在旁路(BYP)输入处断言一个低电平来选择主从连接。该操作对PTCK是异步的,并且独立于PTRST和/或上电复位。这种旁路特性在板级测试环境中特别有用,因为它允许板级自动测试设备(ATE)将ASP视为简单的收发器。当BYP\输入很高时,ASP可以自由地响应影子协议。否则,当BYP较低时,影子协议将被忽略。

无论连接状态是通过使用shadow协议还是使用BYP实现的,该状态都由connect (CON)\输出的低电平表示。同样,当辅助TAP与主TAP断开连接时,CON\输出高电平。


SN74LVT8996-EP的特性

  • 控制基线
    • 一个装配/测试场地,一个制造场地
  • 增强的减少制造源(DMS)支持
  • 增强的产品变更通知
  • 资格的血统
  • 支持IEEE标准1149.1-1990 (JTAG)测试访问端口(TAP)和边界扫描架构的德州仪器(TI)广泛的可测试性产品家族的成员
  • 扩展扫描访问从板级到更高级别的系统集成
  • 促进在系统环境中重用低级芯片/板)测试
  • 当供电在3.3 V时,主和辅助水龙头都完全耐受5 V,可连接到5 V和/或3.3 V主和目标
  • 基于交换机的架构允许主TAP直接连接到从TAP
  • 主TAP是多路的使用背板布线通道最少
  • 影子协议可以出现在任何Test- logic - reset、Run-Test/Idle、Pause-DR和Pause-IR TAP状态下,以提供板对板测试和内置自检
  • 在主TAP上接收/确认简单寻址(影子)协议
  • 10位地址空间最多支持1021个用户指定的单板地址
  • 旁路(BYP)\引脚强制主从连接而不使用阴影协议
  • Connect (CON)\ Pin提供主从连接指示
  • High-Drive Outputs (–32-mA I, 64-mA IOL)在主端支持背板接口,在次端支持高扇出
  • 锁存性能超过100ma / JESD 78, II级
  • ESD保护超过JESD 22
    • 2000-V人体模型(A114-A)
    • 200v机型(A115-A)
    • 1000 v充电器件型号(C101)

部件符合JEDEC和行业标准,确保在更大的温度范围内可靠运行。
SCOPE是德州仪器的商标。


SN74LVT8996-EP功能图

SN74LVT8996-EP


SN74LVT8996-EP规格参数

产品属性属性值
协议JTAG
评级HiRel Enhanced Product
工作温度范围(℃)-40 to 85
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