SN74LVTH182512-EP中文参数_产品功能_现货出售
带有18位通用总线收发器的SN74LVTH18512和SN74LVTH182512扫描测试设备是德州仪器SCOPE可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以方便复杂电路板组件的测试。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。
此外，这些器件专为低压(3.3 v) VCC操作而设计，但具有为5v系统环境提供TTL接口的能力。
在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器，结合d型锁存器和d型触发器，允许数据以透明、锁存或时钟模式流动。它们既可以用作两个9位收发器，也可以用作一个18位收发器。测试电路可由TAP激活，对出现在器件引脚处的数据进行快照采样，或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE’通用总线收发器的功能操作。
每个方向的数据流由输出使能(OEAB和OEBA)、锁存使能(LEAB和LEBA)和时钟(CLKAB和CLKBA)输入控制。对于A-to-B数据流，当LEAB值高时，设备工作在透明模式。当LEAB为低时，A数据被锁存，而CLKAB保持在静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB较低，则A数据存储在CLKAB的从低到高转换上。当OEAB\较低时，B输出是活动的。当OEAB\高时，B输出处于高阻抗状态。B-to-A数据流类似于A-to-B数据流，但使用OEBA\、LEBA和CLKBA输入。
在测试模式下，抑制SCOPE’通用总线收发器的正常工作，使测试电路能够观察和控制器件的I/O边界。当启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的工作:测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK)。。所有测试和扫描操作都同步到TAP接口。
提供有源总线保持电路以将未使用的或浮动的数据输入保持在有效的逻辑电平。
SN74LVTH182512的b端口输出设计为输出或接收高达12 mA，包括等效的25串联电阻，以减少过调和欠调。
SN74LVTH182512-EP的特性
- 控制基线
- 一个装配/测试场地，一个制造场地
- 增强的减少制造源(DMS）支持
- 增强的产品变更通知
- 资格的血统
- Members of the Texas Instruments SCOPE™ Family of Testability Products
- Members of the Texas Instruments Widebus™ Family
- 最先进的3.3 V ABT设计支持混合模式信号操作(5-V输入和输出电压与3.3 V VCC）
- 支持低至2.7 V的非调节电池操作
- UBT™ (Universal Bus Transceiver） Combines D-Type Latches and D-Type Flip-Flops for Operation in Transparent, Latched, or Clocked Mode
- 数据输入上的总线保持消除了外部上拉/下拉电阻的需要
- SN74LVTH182512器件的b口输出等效25-
串联电阻，因此不需要外部电阻 - SCOPE™ Instruction Set
- IEEE标准1149.1-1990所需的说明和可选的CLAMP和HIGHZ
- 输入端并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 示例输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 设备标识
- 偶同位操作码
- Compatible With the IEEE Std 1149.1-1990 (JTAG） Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST） or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
SCOPE、Widebus和UBT是德州仪器的商标。
SN74LVTH182512-EP功能图
SN74LVTH182512-EP规格参数
| 产品属性 | 属性值 |
|---|---|
| 电源电压(min) (V) | 2.7 |
| 电源电压(最大)(V) | 3.6 |
| 通道数 | 18 |
| IOL (max) (mA) | 32 |
| IOH (max) (mA) | -32 |
| 输入类型 | TTL-Compatible CMOS |
| 输出类型 | 3-State |
| 特性 | Balanced outputs, Bus-hold, Damping resistors, Partial power down (Ioff), Positive input clamp diode, Very high speed (tpd 5-10ns) |
| 技术的家庭 | LVT |
| 评级 | HiRel Enhanced Product |
| 工作温度范围(℃) | -40 to 85 |
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